ワイドギャップ・化合物半導体デバイスのMIS界面評価 : SEEDS Kumamoto University The Collection of Research

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熊本大学イノベーション推進機構

ワイドギャップ・化合物半導体デバイスのMIS界面評価

准教授・谷田部　然治

半導体・デジタル研究教育機構半導体部門基礎分野

研究内容

提供できる技術

・GaN系HEMTのMIS界面評価／・電流雑音等の揺らぎの解析

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キーワード

ワイドギャップ半導体 MIS界面揺らぎ Wide Gap Semiconductor MIS Interface Fluctuation 工学領域電気電子工学電子・電気材料工学

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